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原位MEMS加熱電學(xué)測量系統(tǒng)透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng),是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊,實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng),在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境,實(shí)現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
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