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簡(jiǎn)要描述:原位解決方案——光電力一體化系統(tǒng)集成了掃描探針控制單元,可在三維空間內(nèi)對(duì)電學(xué)探針與光纖探針進(jìn)行亞納米級(jí)別精度的操縱與定位。
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產(chǎn)品描述
PicoFemto原位掃描電鏡光電力一體化系統(tǒng),集成了掃描探針控制單元,可在三維空間內(nèi)對(duì)電學(xué)探針與光纖探針進(jìn)行亞納米級(jí)別精度的操縱與定位。通過電學(xué)探針施加電場(chǎng),通過光纖施加光場(chǎng),對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操控并進(jìn)行電學(xué)性質(zhì)、光電性質(zhì)的測(cè)量。并可在物性測(cè)量的同時(shí),動(dòng)態(tài)、高分辨地對(duì)樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征,大大地?cái)U(kuò)展了掃描電鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
電學(xué)測(cè)量指標(biāo):
△ 包含一個(gè)電流電壓測(cè)試單元;
△ 電流測(cè)量最大±1.5 A,最小±100 fA;
△ 電壓輸出最大±200 V,最小±100 nV;
△ 自動(dòng)電流-電壓(I-V)測(cè)量、電流-時(shí)間(I-t)測(cè)量,自動(dòng)保存。
掃描探針操作指標(biāo):
△ 粗調(diào)范圍:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;
△ 細(xì)調(diào)范圍:XY方向18 um,Z方向1.5 um;
△ 細(xì)調(diào)分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。
光纖指標(biāo):
△ 光纖外徑250 um,保證電鏡系統(tǒng)真空指標(biāo);
△ 可選光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡;
△ 可選SMA接頭、FC接頭。
力學(xué)傳感器指標(biāo):
△ 最大載荷100 mN(可選0.1 mN、1 mN、10 mN、100 mN);
△ 力測(cè)量實(shí)測(cè)噪聲優(yōu)于5nN(0.1 mN最大載荷時(shí));
△ 力測(cè)量實(shí)測(cè)分辨率優(yōu)于5 nN(0.1 mN最大載荷時(shí));
△ 自動(dòng)測(cè)量力-距離曲線,自動(dòng)保存
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