簡要描述:ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺式掃描電鏡,集成原位拉伸樣品臺,對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化
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產品描述
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍,加速電壓在1-15kV范圍內連續(xù)可調,搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺,實現(xiàn)掃描電鏡內的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。
△ 載荷范圍:0-1000N
△ 位移分辨率:20nm
△ 加熱模塊:可選
△ 加載功能:拉伸、壓縮、三點彎曲
△ 僅需鼠標即可完成所有操作,無須對中光闌等復雜步驟;亮度/對比度一鍵自適應,自動/手動聚焦;
△ 抽真空時間小于90秒;標配光學導航,搭配多樣品臺,實現(xiàn)快速找樣及切換樣品;
△ 信號采集帶寬10M,掃描速度快;視頻模式下實時觀察樣品,操作流暢,無卡頓;
△ 四分割背散射電子探測器(多種成像模式)、二次電子探測器;BSE+SE 模式(任意比列混合)、集成EDS元素分析功能;
△ 國內生產、銷售、售后一體化服務;北京、上海、安徽、廣東常駐工程師并提供設備演示;
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