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蔡司Sigma 系列電子顯微鏡將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。

蔡司MultiSEM電子顯微鏡開啟電子顯微鏡速度的革新時(shí)代$n借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運(yùn)用 91 條并行電子束的采集速度?，F(xiàn)如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡（SEM）專為 7 x 24 小時(shí)的連續(xù)、可靠運(yùn)行而設(shè)計(jì)。只需簡單設(shè)置高性能數(shù)據(jù)采集流程，MultiSEM 便能夠獨(dú)立地自動(dòng)完成高襯度圖像采集。

蔡司 EVO系列掃描電子顯微鏡模塊化的 SEM 平臺(tái)適用于直觀操作、例行檢測和研究應(yīng)用。無論是在生命科學(xué)， 材料科學(xué)， 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域，憑借廣泛的可選配置， EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。

JetSCAN便攜式掃描電子顯微鏡整體解決方案中集成了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析和風(fēng)險(xiǎn)評估功能，是一款用于軸承磨損狀態(tài)監(jiān)測的優(yōu)秀診斷與預(yù)測工具。

蔡司雙束電鏡Crossbeam系列顯微鏡結(jié)合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力。無論是用于多用戶實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，還是科研或工業(yè)實(shí)驗(yàn)室， 利用Crossbeam系列模塊化的平臺(tái)設(shè)計(jì)理念，您可基于自身需求隨時(shí)升級儀器系統(tǒng)（例如使用LaserFIB進(jìn)行大規(guī)模材料加工）